LabVIEW based Automation Guide for Microwave Measurements

The book is focused on measurement automation, specifically using the LabView tool. It explains basic measurements in a simplified manner with appropriate step-by-step explanations and discussions of instrument capabilities. It touches upon aspects of measurement science, microwave measurements and...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Dubey, Satya Kesh (Συγγραφέας, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut), Narang, Naina (http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut), Negi, P. S. (http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut), Ojha, V. N. (http://id.loc.gov/vocabulary/relators/aut)
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Singapore : Springer Singapore : Imprint: Springer, 2018.
Έκδοση:1st ed. 2018.
Σειρά:SpringerBriefs in Computational Electromagnetics,
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link

Διαδίκτυο

Full Text via HEAL-Link

ΒΚΠ - Πατρα: ALFd

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από ΒΚΠ - Πατρα: ALFd
Ταξιθετικός Αριθμός: 330.01 BAU
Αντίγραφο 1 Στη βιβλιοθήκη

ΒΚΠ - Πατρα: BSC

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από ΒΚΠ - Πατρα: BSC
Ταξιθετικός Αριθμός: 330.01 BAU
Αντίγραφο 2 Στη βιβλιοθήκη
Αντίγραφο 3 Στη βιβλιοθήκη