VLSI Design and Test 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 – July 2, 2017, Revised Selected Papers /
This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were orga...
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | , , |
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Singapore :
Springer Singapore : Imprint: Springer,
2017.
|
| Σειρά: | Communications in Computer and Information Science,
711 |
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | Full Text via HEAL-Link |
Διαδίκτυο
Full Text via HEAL-LinkΒΚΠ - Πατρα: ALFd
| Ταξιθετικός Αριθμός: |
330.01 BAU |
|---|---|
| Αντίγραφο 1 | Στη βιβλιοθήκη |
ΒΚΠ - Πατρα: BSC
| Ταξιθετικός Αριθμός: |
330.01 BAU |
|---|---|
| Αντίγραφο 2 | Στη βιβλιοθήκη |
| Αντίγραφο 3 | Στη βιβλιοθήκη |