Progress in Nanoscale Characterization and Manipulation

This book focuses on charged-particle optics and microscopy, as well as their applications in the materials sciences. Presenting a range of cutting-edge theoretical and methodological advances in electron microscopy and microanalysis, and examining their crucial roles in modern materials research, i...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: SpringerLink (Online service)
Άλλοι συγγραφείς: Wang, Rongming (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt), Wang, Chen (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt), Zhang, Hongzhou (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt), Tao, Jing (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt), Bai, Xuedong (Επιμελητής έκδοσης, http://id.loc.gov/vocabulary/relators/edt)
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Singapore : Springer Singapore : Imprint: Springer, 2018.
Έκδοση:1st ed. 2018.
Σειρά:Springer Tracts in Modern Physics, 272
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link

Διαδίκτυο

Full Text via HEAL-Link

ΒΚΠ - Πατρα: ALFd

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από ΒΚΠ - Πατρα: ALFd
Ταξιθετικός Αριθμός: 330.01 BAU
Αντίγραφο 1 Στη βιβλιοθήκη

ΒΚΠ - Πατρα: BSC

Λεπτομέρειες τεκμηρίων από ΒΚΠ - Πατρα: BSC
Ταξιθετικός Αριθμός: 330.01 BAU
Αντίγραφο 2 Στη βιβλιοθήκη
Αντίγραφο 3 Στη βιβλιοθήκη