Παραπομπή σε μορφή APA (7η εκδ.)

Tan, C. M., & He, F. (2013). Electromigration Modeling at Circuit Layout Level. Springer Singapore : Imprint: Springer.

Παραπομπή σε μορφή Chicago (17η εκδ.)

Tan, Cher Ming, και Feifei He. Electromigration Modeling at Circuit Layout Level. Singapore: Springer Singapore : Imprint: Springer, 2013.

Παραπομπή σε μορφή MLA (8th εκδ.)

Tan, Cher Ming, και Feifei He. Electromigration Modeling at Circuit Layout Level. Springer Singapore : Imprint: Springer, 2013.