Μελέτη & χαρακτηρισμός λεπτών υμενίων με φασματοσκοπίες φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες-Χ (XPS)

• Κύριος συγγραφέας: Μιχαλόπουλος, Νικόλαος
• Άλλοι συγγραφείς: Κέννου, Στυλιανή
• Μορφή: Thesis
• Γλώσσα: Greek
• Έκδοση: 2015
• Θέματα: Φασματοσκοπία φωτοηλεκτρονίων; Λεπτά υμένια; 530.427 5; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Thin films

Στην παρούσα διπλωματική εργασία αναλύονται λεπτά υμένια (thin films) διαφόρων πολυμερικών ή ολιγομερών οργανικών ενώσεων, με την επεξεργασία μετρήσεων που είχαν ληφθεί με την επιφανειακά ευαίσθητη τεχνική της φασματοσκοπίας φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες Χ (XPS). Από την ανάλυση των φασμάτων XPS προκύ...