Μελέτη & χαρακτηρισμός λεπτών υμενίων με φασματοσκοπίες φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες-Χ (XPS)
Στην παρούσα διπλωματική εργασία αναλύονται λεπτά υμένια (thin films) διαφόρων πολυμερικών ή ολιγομερών οργανικών ενώσεων, με την επεξεργασία μετρήσεων που είχαν ληφθεί με την επιφανειακά ευαίσθητη τεχνική της φασματοσκοπίας φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες Χ (XPS). Από την ανάλυση των φασμάτων XPS προκύ...
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Άλλοι συγγραφείς: | |
| Μορφή: | Thesis |
| Γλώσσα: | Greek |
| Έκδοση: |
2015
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://hdl.handle.net/10889/8346 |
| id |
nemertes-10889-8346 |
|---|---|
| record_format |
dspace |
| spelling |
nemertes-10889-83462022-09-06T05:12:44Z Μελέτη & χαρακτηρισμός λεπτών υμενίων με φασματοσκοπίες φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες-Χ (XPS) Μιχαλόπουλος, Νικόλαος Κέννου, Στυλιανή Michalopoulos, Nikolaos Λαδάς, Σπυρίδων Μαυραντζάς, Βλάσιος Φασματοσκοπία φωτοηλεκτρονίων Λεπτά υμένια 530.427 5 X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) Thin films Στην παρούσα διπλωματική εργασία αναλύονται λεπτά υμένια (thin films) διαφόρων πολυμερικών ή ολιγομερών οργανικών ενώσεων, με την επεξεργασία μετρήσεων που είχαν ληφθεί με την επιφανειακά ευαίσθητη τεχνική της φασματοσκοπίας φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες Χ (XPS). Από την ανάλυση των φασμάτων XPS προκύπτουν συμπεράσματα τόσο για την παρουσία συγκεκριμένων χημικών στοιχείων στα δείγματα (ποιοτική ανάλυση) όσο και για την συγκέντρωση των στοιχείων αυτών στην περιοχή ανάλυσης (ποσοτική ανάλυση). This thesis analyzed thin films (thin films) various polymeric or oligomeric organic compounds, the processing of measurements taken with the surface sensitive technique of spectroscopy X-ray photoelectron (XPS). From the analysis of XPS spectra resulting conclusions as to the presence of certain chemical elements in samples (qualitative analysis) and for the concentration of these elements in the analysis (quantitative analysis). 2015-02-05T16:26:45Z 2015-02-05T16:26:45Z 2014-10-22 2015-02-05 Thesis http://hdl.handle.net/10889/8346 gr 0 application/pdf |
| institution |
UPatras |
| collection |
Nemertes |
| language |
Greek |
| topic |
Φασματοσκοπία φωτοηλεκτρονίων Λεπτά υμένια 530.427 5 X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) Thin films |
| spellingShingle |
Φασματοσκοπία φωτοηλεκτρονίων Λεπτά υμένια 530.427 5 X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) Thin films Μιχαλόπουλος, Νικόλαος Μελέτη & χαρακτηρισμός λεπτών υμενίων με φασματοσκοπίες φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες-Χ (XPS) |
| description |
Στην παρούσα διπλωματική εργασία αναλύονται λεπτά υμένια (thin films) διαφόρων πολυμερικών ή ολιγομερών οργανικών ενώσεων, με την επεξεργασία μετρήσεων που είχαν ληφθεί με την επιφανειακά ευαίσθητη τεχνική της φασματοσκοπίας φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες Χ (XPS). Από την ανάλυση των φασμάτων XPS προκύπτουν συμπεράσματα τόσο για την παρουσία συγκεκριμένων χημικών στοιχείων στα δείγματα (ποιοτική ανάλυση) όσο και για την συγκέντρωση των στοιχείων αυτών στην περιοχή ανάλυσης (ποσοτική ανάλυση). |
| author2 |
Κέννου, Στυλιανή |
| author_facet |
Κέννου, Στυλιανή Μιχαλόπουλος, Νικόλαος |
| format |
Thesis |
| author |
Μιχαλόπουλος, Νικόλαος |
| author_sort |
Μιχαλόπουλος, Νικόλαος |
| title |
Μελέτη & χαρακτηρισμός λεπτών υμενίων με φασματοσκοπίες φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες-Χ (XPS) |
| title_short |
Μελέτη & χαρακτηρισμός λεπτών υμενίων με φασματοσκοπίες φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες-Χ (XPS) |
| title_full |
Μελέτη & χαρακτηρισμός λεπτών υμενίων με φασματοσκοπίες φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες-Χ (XPS) |
| title_fullStr |
Μελέτη & χαρακτηρισμός λεπτών υμενίων με φασματοσκοπίες φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες-Χ (XPS) |
| title_full_unstemmed |
Μελέτη & χαρακτηρισμός λεπτών υμενίων με φασματοσκοπίες φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες-Χ (XPS) |
| title_sort |
μελέτη & χαρακτηρισμός λεπτών υμενίων με φασματοσκοπίες φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες-χ (xps) |
| publishDate |
2015 |
| url |
http://hdl.handle.net/10889/8346 |
| work_keys_str_mv |
AT michalopoulosnikolaos meletēcharaktērismosleptōnymeniōnmephasmatoskopiesphōtoēlektroniōnapoaktineschxps |
| _version_ |
1799945005967605760 |
