Μελέτη & χαρακτηρισμός λεπτών υμενίων με φασματοσκοπίες φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες-Χ (XPS)

• Main Author: Μιχαλόπουλος, Νικόλαος
• Other Authors: Κέννου, Στυλιανή
• Format: Thesis
• Language: Greek
• Published: 2015
• Subjects: Φασματοσκοπία φωτοηλεκτρονίων; Λεπτά υμένια; 530.427 5; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Thin films

Στην παρούσα διπλωματική εργασία αναλύονται λεπτά υμένια (thin films) διαφόρων πολυμερικών ή ολιγομερών οργανικών ενώσεων, με την επεξεργασία μετρήσεων που είχαν ληφθεί με την επιφανειακά ευαίσθητη τεχνική της φασματοσκοπίας φωτοηλεκτρονίων από ακτίνες Χ (XPS). Από την ανάλυση των φασμάτων XPS προκύ...