Μοντελοποίηση και πειραματική εξομοίωση του μηχανισμού γήρανσης μνημών τεχνολογίας NAND
Η συμπεριφορά των NAND Flash μνημών, της πιο επιτυχημένης τε- χνολογίας Non-Volatile μνημών σήμερα, αλλοιώνεται με την αύξηση των εγγραφών. Αυτή η διαδικασία, που ονομάζεται γήρανση, πέρα από μη ανα- στρέψιμη είναι και πολύ σημαντική για τον σχεδιασμό συστημάτων που χρησιμοποιούν NAND Flash μνήμ...
Κύριος συγγραφέας: | Σκλίας, Γεώργιος |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | Αντωνακόπουλος, Θεόδωρος |
Μορφή: | Thesis |
Γλώσσα: | Greek |
Έκδοση: |
2015
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | http://hdl.handle.net/10889/8694 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Κωδικοποίηση και διόρθωση λαθών σε μνήμες NAND πολλαπλών επιπέδων
ανά: Ευταξιάδης, Ευστράτιος, κ.ά.
Έκδοση: (2014) -
Μοντελοποίηση και εξομοίωση των χαρακτηριστικών γήρανσης NV μνημών
ανά: Προδρομάκης, Αντώνιος
Έκδοση: (2015) -
Ανάλυση και πειραματική αξιολόγηση του μηχανισμού εισαγωγής λαθών σε μνήμες τεχνολογίας MLC NAND
ανά: Γεωργακοπούλου, Κωνσταντίνα
Έκδοση: (2011) -
Ανάπτυξη αλγορίθμου χαρτογράφησης στη μονάδα μετάφρασης διευθύνσεων SSDs βασισμένων σε τεχνολογία NAND flash
ανά: Τζιμή, Καλλιόπη
Έκδοση: (2021) -
Αρχιτεκτονική αποκωδικοποιητών μεταβλητού ρυθμού για LDPC κώδικες και εφαρμογή σε ημιαγωγικές μνήμες τύπου NAND flash
ανά: Κορκοτσίδης, Στέλιος
Έκδοση: (2016)