Μοντελοποίηση και πειραματική εξομοίωση του μηχανισμού γήρανσης μνημών τεχνολογίας NAND
Η συμπεριφορά των NAND Flash μνημών, της πιο επιτυχημένης τε- χνολογίας Non-Volatile μνημών σήμερα, αλλοιώνεται με την αύξηση των εγγραφών. Αυτή η διαδικασία, που ονομάζεται γήρανση, πέρα από μη ανα- στρέψιμη είναι και πολύ σημαντική για τον σχεδιασμό συστημάτων που χρησιμοποιούν NAND Flash μνήμ...
Main Author: | Σκλίας, Γεώργιος |
---|---|
Other Authors: | Αντωνακόπουλος, Θεόδωρος |
Format: | Thesis |
Language: | Greek |
Published: |
2015
|
Subjects: | |
Online Access: | http://hdl.handle.net/10889/8694 |
Similar Items
-
Κωδικοποίηση και διόρθωση λαθών σε μνήμες NAND πολλαπλών επιπέδων
by: Ευταξιάδης, Ευστράτιος, et al.
Published: (2014) -
Μοντελοποίηση και εξομοίωση των χαρακτηριστικών γήρανσης NV μνημών
by: Προδρομάκης, Αντώνιος
Published: (2015) -
Ανάλυση και πειραματική αξιολόγηση του μηχανισμού εισαγωγής λαθών σε μνήμες τεχνολογίας MLC NAND
by: Γεωργακοπούλου, Κωνσταντίνα
Published: (2011) -
Ανάπτυξη αλγορίθμου χαρτογράφησης στη μονάδα μετάφρασης διευθύνσεων SSDs βασισμένων σε τεχνολογία NAND flash
by: Τζιμή, Καλλιόπη
Published: (2021) -
Αρχιτεκτονική αποκωδικοποιητών μεταβλητού ρυθμού για LDPC κώδικες και εφαρμογή σε ημιαγωγικές μνήμες τύπου NAND flash
by: Κορκοτσίδης, Στέλιος
Published: (2016)