Mechanical stress on the nanoscale : simulation, material systems and characterization techniques /

Mechanical stress on the nanoscale : simulation, material systems and characterization techniques /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Hanbücken, Margrit, Muller, Pierre, 1950-, Wehrspohn, Ralf B.
Μορφή: Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Weinheim : Wiley-VCH, 2011.
Θέματα:
Semiconductors > Defects.
Semiconductors > Reliability.
TECHNOLOGY & ENGINEERING > Material Science.
Electronic books.
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link
Περιγραφή
Φυσική περιγραφή:1 online resource (380 pages)
Βιβλιογραφία:Includes bibliographical references and index.
ISBN:9783527410668
352741066X
9783527639564
352763956X
9783527639540
3527639543
3527639551
9783527639557
9781283379496
128337949X
DOI:10.1002/9783527639540

Παρόμοια τεκμήρια