Theory of intense beams of charged particles /

Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials--Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at hig...

Πλήρης περιγραφή

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Syrovoy, Valeriy A.
Μορφή: Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Amsterdam : Academic Press, 2011.
Σειρά:Advances in imaging and electron physics ; v. 166
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link