Scanning probe microscopy in industrial applications : nanomechanical characterization /

• Άλλοι συγγραφείς: Yablon, Dalia G., 1975- (Επιμελητής έκδοσης)
• Μορφή: Ηλ. βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Hoboken, New Jersey : Wiley, [2014]
• Θέματα: Scanning probe microscopy > Industrial applications.; Materials > Microscopy.