Scanning probe microscopy in industrial applications : nanomechanical characterization /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς: Yablon, Dalia G., 1975- (Επιμελητής έκδοσης)
Μορφή: Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Hoboken, New Jersey : Wiley, [2014]
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link
Περιγραφή
Φυσική περιγραφή:1 online resource (xix, 347 pages)
Βιβλιογραφία:Includes bibliographical references and index.
ISBN:9781118723111
1118723112
DOI:10.1002/9781118723111