Scanning probe microscopy in industrial applications : nanomechanical characterization /

Scanning probe microscopy in industrial applications : nanomechanical characterization /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Άλλοι συγγραφείς:	Yablon, Dalia G., 1975- (Επιμελητής έκδοσης)
Μορφή:	Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:	English
Έκδοση:	Hoboken, New Jersey : Wiley, [2014]
Θέματα:	Scanning probe microscopy > Industrial applications. Materials > Microscopy.
Διαθέσιμο Online:	Full Text via HEAL-Link

Παρόμοια τεκμήρια

Scanning probe microscopy of soft matter : fundamentals and practices.
ανά: T︠S︡ukruk, V. V. (Vladimir Vasilʹevich)
Έκδοση: (2011)

Fluorescence Microscopy : from principles to biological applications /
Έκδοση: (2013)

Ανάλυση της διαδικασίας ανάγνωσης σε μικρο-αισθητήρες τεχνολογίας υλικών αλλαγής φάσης και εκτίμηση κινηματικής κατάστασης
ανά: Ζαχαρίας, Ηλίας
Έκδοση: (2019)

Analysis of the early Minoan IB pottery with scanning electron microscopy
ανά: Iliopoulos, Ioannis
Έκδοση: (2021)

Low voltage electron microscopy : principles and applications /
Έκδοση: (2013)

Neutron and x-ray microscopy.
Έκδοση: (2012)

Correlative light and electron microscopy /
Έκδοση: (2012)

Electron microscopy and analysis 1999 : proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group conference, University of Sheffield, 24-27 August 1999 /
Έκδοση: (1999)

Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale /
Έκδοση: (2007)

Atomic force microscopy : exploring basic modes and advanced applications /
ανά: Haugstad, Greg, 1963-
Έκδοση: (2012)

Atomic force microscopy in liquid : biological applications /
Έκδοση: (2012)

Correlative Light and Electron Microscopy II /
Έκδοση: (2014)

Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents /
ανά: Foster, Adam, κ.ά.
Έκδοση: (2006)

Correlative light and electron microscopy III /
Έκδοση: (2017)

Advances in acoustic microscopy and high resolution imaging : from principles to applications /
Έκδοση: (2013)

Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy /
ανά: Brydson, Rik
Έκδοση: (2011)

Correlative Light and Electron Microscopy IV
ανά: Wilson, Leslie
Έκδοση: (2019)

Atom Probe Microscopy
ανά: Gault, Baptiste, κ.ά.
Έκδοση: (2012)

FRET - Förster resonance energy transfer : from theory to applications /
Έκδοση: (2014)

Σπειροειδής κίνηση και έλεγχος σε μικρο/νανο-ηλεκτρομηχανικά συστήματα αποθήκευσης πληροφορίας
ανά: Κωτσόπουλος, Ανδρέας
Έκδοση: (2013)

Applied Scanning Probe Methods V Scanning Probe Microscopy Techniques /
Έκδοση: (2007)

Applied Scanning Probe Methods II Scanning Probe Microscopy Techniques /
Έκδοση: (2006)

Applied Scanning Probe Methods VIII Scanning Probe Microscopy Techniques /
Έκδοση: (2008)

Applied Scanning Probe Methods XI Scanning Probe Microscopy Techniques /
ανά: Bhushan, Bharat, κ.ά.
Έκδοση: (2009)

Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 3
Έκδοση: (2002)

Scanning Transmission Electron Microscopy Imaging and Analysis /
Έκδοση: (2011)

Applied Scanning Probe Methods III Characterization /
Έκδοση: (2006)

Applied Scanning Probe Methods IX Characterization /
Έκδοση: (2008)

Applied Scanning Probe Methods XII Characterization /
Έκδοση: (2009)

Applied Scanning Probe Methods IV Industrial Applications /
Έκδοση: (2006)

Cryo-EM.
Έκδοση: (2010)

Applied Scanning Probe Methods X Biomimetics and Industrial Applications /
Έκδοση: (2008)

Applied Scanning Probe Methods XIII Biomimetics and Industrial Applications /
Έκδοση: (2009)

Applied Microscopy
Έκδοση: (2020)

Physical Principles of Electron Microscopy An Introduction to TEM, SEM, and AEM /
ανά: Egerton, R.F
Έκδοση: (2016)

Scanning Probe Microscopy Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
ανά: Foster, Adam
Έκδοση: (2006)

Scanning Probe Microscopy Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
ανά: Kalinin, Sergei
Έκδοση: (2007)

Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
ανά: Echlin, Patrick
Έκδοση: (2009)

Atom-Probe Tomography The Local Electrode Atom Probe /
ανά: Miller, Michael K., κ.ά.
Έκδοση: (2014)

New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy
ανά: Shimizu, Kenichi, κ.ά.
Έκδοση: (2010)

Βιβλιοθήκη & Κέντρο Πληροφόρησης | Πανεπιστήμιο Πατρών

Cannot write session to /tmp/vufind_sessions/sess_7od7o6s2ad0v1c47th1sqqkc7q