Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

• Κύριοι συγγραφείς: Servín, Manuel (Συγγραφέας), Quiroga, J. Antonio (Juan Antonio) (Συγγραφέας), Padilla, J. Moisés (José Moisés) (Συγγραφέας)
• Μορφή: Ηλ. βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Weinheim : Wiley-VCH, [2014]
• Έκδοση: First edition.
• Θέματα: Interferometry.; Diffraction patterns.; Optical measurements.; SCIENCE > Energy.; SCIENCE > Mechanics > General.; SCIENCE > Physics > General.; Interferometrie.; Beugungsfigur.; Electronic books.
• Περιγραφή τεκμηρίου: Edition statement from running title area.
• Φυσική περιγραφή: 1 online resource (xvi, 328 pages) : illustrations
• Βιβλιογραφία: Includes bibliographical references and index.
• ISBN: 1306840880; 9781306840880; 9783527681082; 3527681086; 3527411526; 9783527411528; 9783527681105 (ePub); 3527681108 (ePub)
• DOI: 10.1002/9783527681075