Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Servín, Manuel (Συγγραφέας), Quiroga, J. Antonio (Juan Antonio) (Συγγραφέας), Padilla, J. Moisés (José Moisés) (Συγγραφέας)
Μορφή: Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Weinheim : Wiley-VCH, [2014]
Έκδοση:First edition.
Θέματα:
Interferometry.
Diffraction patterns.
Optical measurements.
SCIENCE > Energy.
SCIENCE > Mechanics > General.
SCIENCE > Physics > General.
Interferometrie.
Beugungsfigur.
Electronic books.
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link
LEADER 03161nam a2200829 4500
001 ocn881028799
003 OCoLC
005 20170124071728.4
006 m o d
007 cr |n|||||||||
008 140606t20142014gw a ob 001 0 eng d
040 |a IDEBK  |b eng  |e rda  |e pn  |c IDEBK  |d EBLCP  |d E7B  |d DG1  |d CUI  |d N$T  |d OCLCA  |d OCLCQ  |d OCLCF  |d DEBSZ  |d COO  |d YDXCP  |d CHVBK  |d DEBBG  |d RECBK  |d GrThAP 
019 |a 890067315  |a 908035721 
020 |a 1306840880  |q (electronic bk.) 
020 |a 9781306840880  |q (electronic bk.) 
020 |a 9783527681082  |q (electronic bk.) 
020 |a 3527681086  |q (electronic bk.) 
020 |z 9783527681075 
020 |z 3527681078 
020 |z 9783527681099 
020 |z 3527681094 
020 |z 9783527411528  |q (print) 
020 |a 3527411526 
020 |a 9783527411528 
020 |a 9783527681105 (ePub) 
020 |a 3527681108 (ePub) 
029 1 |a NZ1  |b 15592168 
029 1 |a CHVBK  |b 334095115 
029 1 |a CHBIS  |b 010442065 
029 1 |a DEBSZ  |b 431698449 
029 1 |a CHVBK  |b 327497866 
029 1 |a CHDSB  |b 006324887 
029 1 |a DEBBG  |b BV042989765 
029 1 |a DEBBG  |b BV043396841 
035 |a (OCoLC)881028799  |z (OCoLC)890067315  |z (OCoLC)908035721 
037 |a 615339  |b MIL 
050 4 |a QC39  |b .S384 2014 
072 7 |a SCI  |x 024000  |2 bisacsh 
072 7 |a SCI  |x 041000  |2 bisacsh 
072 7 |a SCI  |x 055000  |2 bisacsh 
082 0 4 |a 530.8 
049 |a MAIN 
100 1 |a Servín, Manuel,  |e author. 
245 1 0 |a Fringe pattern analysis for optical metrology :  |b theory, algorithms, and applications /  |c Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, and J. Moisés Padilla. 
250 |a First edition. 
264 1 |a Weinheim :  |b Wiley-VCH,  |c [2014] 
264 4 |c ©2014 
300 |a 1 online resource (xvi, 328 pages) :  |b illustrations 
336 |a text  |b txt  |2 rdacontent 
337 |a computer  |b c  |2 rdamedia 
338 |a online resource  |b cr  |2 rdacarrier 
500 |a Edition statement from running title area. 
504 |a Includes bibliographical references and index. 
588 0 |a Online resource; title from PDF title page (Wiley, viewed August 1, 2014). 
650 0 |a Interferometry. 
650 0 |a Diffraction patterns. 
650 0 |a Optical measurements. 
650 7 |a SCIENCE  |x Energy.  |2 bisacsh 
650 7 |a SCIENCE  |x Mechanics  |x General.  |2 bisacsh 
650 7 |a SCIENCE  |x Physics  |x General.  |2 bisacsh 
650 7 |a Diffraction patterns.  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00893521 
650 7 |a Interferometry.  |2 fast  |0 (OCoLC)fst00976235 
650 7 |a Optical measurements.  |2 fast  |0 (OCoLC)fst01046776 
650 7 |a Interferometrie.  |0 (DE-588)4027296-5  |2 gnd 
650 7 |a Beugungsfigur.  |0 (DE-588)4631881-1  |2 gnd 
655 4 |a Electronic books. 
655 0 |a Electronic books. 
700 1 |a Quiroga, J. Antonio  |q (Juan Antonio),  |e author. 
700 1 |a Padilla, J. Moisés  |q (José Moisés),  |e author. 
776 0 8 |i Print version:  |a Servín, Manuel.  |t Fringe pattern analysis for optical metrology.  |d Weinheim, Germany : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, [2014]  |z 9783527411528  |w (OCoLC)884739610 
856 4 0 |u https://doi.org/10.1002/9783527681075  |z Full Text via HEAL-Link 
994 |a 92  |b DG1 

Παρόμοια τεκμήρια