Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Servín, Manuel (Συγγραφέας), Quiroga, J. Antonio (Juan Antonio) (Συγγραφέας), Padilla, J. Moisés (José Moisés) (Συγγραφέας)
Μορφή: Ηλ. βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Weinheim : Wiley-VCH, [2014]
Έκδοση:First edition.
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:Full Text via HEAL-Link

Παρόμοια τεκμήρια