Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

• Κύριοι συγγραφείς: Servín, Manuel (Συγγραφέας), Quiroga, J. Antonio (Juan Antonio) (Συγγραφέας), Padilla, J. Moisés (José Moisés) (Συγγραφέας)
• Μορφή: Ηλ. βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Weinheim : Wiley-VCH, [2014]
• Έκδοση: First edition.
• Θέματα: Interferometry.; Diffraction patterns.; Optical measurements.; SCIENCE > Energy.; SCIENCE > Mechanics > General.; SCIENCE > Physics > General.; Interferometrie.; Beugungsfigur.; Electronic books.