Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching Application to Rough and Natural Surfaces
| Κύριος συγγραφέας: | |
|---|---|
| Μορφή: | Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Berlin, Heidelberg
Springer-Verlag Berlin Heidelberg
2006
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-28472-7 |
| Φυσική περιγραφή: | v.: digital |
|---|---|
| ISBN: | 9783540284727 |
