Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching Application to Rough and Natural Surfaces

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Kaupp, Gerd
Μορφή: Ηλεκτρονική πηγή Εργαλειοθήκη Βιβλίο
Γλώσσα:English
Έκδοση: Berlin, Heidelberg Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2006
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-28472-7
LEADER 01376nom a2200373 u 4500
001 10072623
003 upatras
005 20210127113509.0
008 090513s2006 eng
020 |a 9783540284727 
040 |a GR-PaULI  |c GR-PaULI 
041 0 |a eng 
100 1 |a Kaupp, Gerd  |9 70968 
245 1 0 |a Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching  |h [electronic resource]  |b Application to Rough and Natural Surfaces  |c by Gerd Kaupp 
260 |a Berlin, Heidelberg  |b Springer-Verlag Berlin Heidelberg  |c 2006 
300 |b v.: digital 
650 4 |a Nanotechnology  |9 19191 
650 4 |a Engineering  |9 17712 
650 4 |a Physical optics  |9 64495 
650 4 |a Biochemistry  |9 10061 
650 4 |a Chemistry, Physical organic  |9 64434 
650 4 |a Life sciences  |9 13282 
650 4 |a Chemistry  |9 11013 
650 4 |a Nanotechnology  |9 19191 
650 4 |a Physics and Applied Physics in Engineering  |9 64483 
650 4 |a Applied Optics, Optoelectronics, Optical Devices  |9 64497 
650 4 |a Βιοχημεία  |9 39 
650 4 |a Physical Chemistry  |9 10052 
650 4 |a Life Sciences, general  |9 64064 
852 |a GR-PaULI  |b ΠΑΤΡΑ  |b ΒΚΠ 
856 4 0 |u http://dx.doi.org/10.1007/978-3-540-28472-7 
942 |2 ddc 
952 |0 0  |1 0  |4 0  |7 0  |9 74079  |a LISP  |b LISP  |d 2016-04-24  |l 0  |r 2016-04-24 00:00:00  |w 2016-04-24  |y ERS 
999 |c 48868  |d 48868