Built-in test for VLSI: preudorandom techniques

• Κύριοι συγγραφείς: Bardell, Paul H. (Συγγραφέας), McAnney, William H. (Συγγραφέας), Savir, Jacob (Συγγραφέας)
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: New York John Wiley & Sons c1987
• Θέματα: INTEGRATED CIRCUITS; VLSI