Built-in test for VLSI: preudorandom techniques
Κύριοι συγγραφείς: | , , |
---|---|
Μορφή: | Βιβλίο |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
New York
John Wiley & Sons
c1987
|
Θέματα: |
Περιγραφή τεκμηρίου: | Βιβλιογραφία : σσ. 339-345 |
---|---|
Φυσική περιγραφή: | xiii, 354p. fig. |
ISBN: | 0 471 62463 2 |