From contamination to defects, foults and yield loss Simulation and applications
| Κύριοι συγγραφείς: | , |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
Bostn
Kluwer Academic Publishers
c1996
|
| Θέματα: |
Μηχανικών Η/Υ και Πληροφορικής: Unknown
| Ταξιθετικός Αριθμός: |
658.56 KHA |
|---|---|
| Αντίγραφο 1 | Στη βιβλιοθήκη |