Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing

• Άλλοι συγγραφείς: Bhattacharya, Debashis, Hayes, John P.
• Μορφή: Βιβλίο
• Γλώσσα: English
• Έκδοση: Boston Kluwer Academic Publishers 1990
• Θέματα: ΕΠΕΑΕΚ; VLSI; INTEGRATED CIRCUITS; COMPUTER SIMULATION
• Φυσική περιγραφή: x,159p.:fig.
• ISBN: 0 7923 9058 X