Ηλεκτρικός και οπτικός χαρακτηρισμός χωρητικά συζευγμένων εκκενώσεων ραδιοσυχνότητας
Τις τελευταίες δεκαετίες οι εκκενώσεις αίγλης με τάση διέγερσης ραδιοσυχνότητας χρησιμοποιούνται ευρέως λόγω της εφαρμογής τους στη παρασκευή ημιαγωγών και φωτοβολταϊκών κελιών. Λόγω της πολύπλοκης φύσης των διεργασιών πλάσματος, είναι απαραίτητος ο έλεγχος των ιδιοτήτων τους για τη βελτιστοποίηση τ...
Κύριος συγγραφέας: | Τσιγάρας, Ιωάννης |
---|---|
Άλλοι συγγραφείς: | Ματαράς, Δημήτριος |
Μορφή: | Thesis |
Γλώσσα: | English |
Έκδοση: |
2019
|
Θέματα: | |
Διαθέσιμο Online: | http://hdl.handle.net/10889/11905 |
Παρόμοια τεκμήρια
-
Ανάπτυξη της μεθόδου μέτρησης της ισχύος και της εμπέδησης του πλάσματος στην διεργασία εναπόθεσης μικροκρυσταλλικού πυριτίου
ανά: Τσιγάρας, Ιωάννης
Έκδοση: (2014) -
Ηλεκτρικός χαρακτηρισμός φωτοβολταϊκού πλαισίου ημίσεων ηλιακών κυττάρων πυριτίου
ανά: Μαραγκού, Αικατερίνη
Έκδοση: (2020) -
Ηλεκτρικός και οπτικός χαρακτηρισμός χωρητικά συζευγμένων εκκενώσεων ραδιοσυχνότητας /
ανά: Τσιγάρας, Ιωάννης -
Εγκατάσταση και μελέτη αντιδραστήρα τεχνολογικού πλάσματος ραδιοσυχνοτήτων για εφαρμογές στη νανοτεχνολογία
ανά: Κονισπολιάτης, Χρήστος
Έκδοση: (2013) -
Ανάπτυξη και χαρακτηρισμός δομών p-Si / Ta2O5 / Al
ανά: Κόρκος, Σπυρίδων
Έκδοση: (2018)